電子元件恒溫恒濕試驗(yàn)箱是電子制造業(yè) “可靠性工程" 的核心設(shè)備，通過模擬不同環(huán)境條件下的長期應(yīng)力，幫助企業(yè)提前發(fā)現(xiàn)電子元件的潛在缺陷，是保障終端設(shè)備（如手機(jī)、汽車、航天器）穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵測試環(huán)節(jié)。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-08-06
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產(chǎn)品概述：

電子元件恒溫恒濕試驗(yàn)箱是專為電阻、電容、芯片、傳感器、連接器、線路板等電子元件設(shè)計(jì)的環(huán)境可靠性測試設(shè)備，通過精準(zhǔn)模擬高溫高濕、低溫干燥、溫濕度循環(huán)等復(fù)雜環(huán)境，評估電子元件在不同氣候條件下的性能穩(wěn)定性、電氣安全性及使用壽命。

核心功能與測試目的

環(huán)境參數(shù)精準(zhǔn)模擬

可實(shí)現(xiàn)溫度（常規(guī)范圍-20℃~150℃、 - 40℃~150℃、 - 60℃~150℃）和相對濕度（支持 5%~98% RH）的精準(zhǔn)調(diào)控，模擬熱帶高濕、寒帶低溫、晝夜溫差驟變等復(fù)雜環(huán)境，甚至可模擬 “溫度 + 濕度 + 時間" 的循環(huán)應(yīng)力（如每天 8 小時高溫高濕、16 小時常溫干燥的周期性測試）。

電子元件性能評估

通過長時間或循環(huán)測試，重點(diǎn)檢測電子元件在環(huán)境應(yīng)力下的關(guān)鍵指標(biāo)變化：

電氣性能：如電阻值漂移、電容容量衰減、芯片邏輯功能失效、連接器接觸電阻增大（因濕度導(dǎo)致氧化）等；

物理穩(wěn)定性：如線路板焊點(diǎn)開裂（溫度驟變導(dǎo)致熱脹冷縮不均）、元件封裝材料老化（高溫導(dǎo)致開裂或密封性下降）、引腳銹蝕（高濕環(huán)境下的電化學(xué)腐蝕）；

安全風(fēng)險：如絕緣材料擊穿電壓下降（高濕導(dǎo)致絕緣性能弱化）、元件短路（凝露引發(fā)的漏電）等。

技術(shù)參數(shù)：

型號		ZY-H201-1000K40
標(biāo)稱內(nèi)容積		1000L
內(nèi)箱尺寸		1000mm×1000mm×1000mm（W×H×D）
外形尺寸		1250mm×2066mm×1910mm（W×H×D）
重量		700kg
電流		24A
功率		11.5kw
電源		三相，380V，50/60HZ
技術(shù) 參數(shù)	溫度范圍	空載－40℃ ～ + 150℃
	濕度范圍	20%~98%R.H.（可非標(biāo)5%~98%R.H.)
	溫濕度范圍表
	控制精度	溫度分辨率：0.01℃ 濕度分辨率：0.1%R.H 溫度偏差： ±2℃ 濕度偏差： ±2%R.H 溫度均勻度：≦ 2℃ 濕度均勻度：±3%R.H 溫度波動度：±0.5℃ 濕度波動度：± 2%R.H
	升降溫速率	升溫時間：-70℃ → + 150℃ 全程平均 ≧ 3℃ / min
		降溫時間：150℃ → -70℃ 全程平均 ≧ 1℃ / min

電子元件恒溫恒濕試驗(yàn)箱是電子制造業(yè) “可靠性工程" 的核心設(shè)備，通過模擬不同環(huán)境條件下的長期應(yīng)力，幫助企業(yè)提前發(fā)現(xiàn)電子元件的潛在缺陷，是保障終端設(shè)備（如手機(jī)、汽車、航天器）穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵測試環(huán)節(jié)。

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